来源：资产与实验室管理处（分析测试中心） 时间：2024-10-01 作者：王利杰 点击： 摄影：
9月27日上午，分析测试中心主办的X射线显微镜与双束电镜应用交流会在枫林校区图书馆迎宾厅召开，卡尔蔡司（上海）管理有限公司相关人员作技术讲座。
卡尔蔡司（上海）管理有限公司沈宝云介绍了X射线显微成像原理和成像过程、蔡司微米CT设备其技术特点，就设备的应用范围展开了案例说明。康泽文介绍了双束电子显微镜（FIB-SEM）的工作原理和其应用领域。
报告会后，专家和与会人员进行了互动交流。
师生代表40余人参加会议。
E-mail：xuanchuanbu@jxstnu.edu.cn
红角洲校区：江西省南昌市红角洲学府大道589号
枫林校区：江西省南昌市昌北经济开发区枫林大道605号
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